Akademik bir forumda değiliz, özetliyeyim, bir sistem veya deney ona müdahale etmeden ölçülemez (hem mikro ölçekte hem makro
[mikro kanonik sistemlerin birleşmiş hali / yani işlemciler] ölçekte. Kalitelendirme veya sınıflandırma denilen işlemde bir test bir de referans nümunesi olmak zorundadır, referans değeri olmadan bir örneği teste alamaz sınıflandıramazsın. Referansları olabilir Ar-Ge de önemli kriterlerden biri referans sertifikasıdır. Her üretimde, o üretime ait bir serbestlik parametresine sahip olur, bunu polinom ve çok bilinmeyenli denklem olarak ele alabilirsiniz. Oradaki ax^4+bx^3+... giden a b c lerin her biri kaliteyi belirleyen parametrelerdir, üretilen 8nm işlemci bir diyottur bu diyot'un diğerleriyle haberleşmesi bir parametre, sıcaklığını kapasite etme bir parametre, 0,03V'luk elektronu geçirme hassasiyetine sahip bant genişliğine sahip olması bir parametredir, her birinden doğacak kanonik sistemler ve deney müdahaleden ekstra parametreler doğarken kaliteyi bunlar %94 oranında oluşturuyorken %95-95,1 mi 97mi diye yaptığın test senin kaliteni belirlemez çünkü kalite sınıflandırmaları 5. serbestlik derecesinden sonra teknoloji ve bilim alanında çok bir önemi kalmıyor yani sizin bu yaptığınız teste gelirsek belirli parametreleri kritik seviyede tutarak %94'ün geri kalanını nitelendiriyorsunuz
%3lük bir oran için bu yazı yeterli
